http://www.semiconductor-sanyo.jp/reliability/main.asp?part=5&id=DM30A120
信頼性ハンドブック
電子を照射するのに対して、FIBではイオンを照射することにより試料から発生した2次電子あるいは、2次イオンを検出し、2次電子像または2次イオン像が得られます。このことから、SIM（走査型イオン顕微鏡）像と呼ばれます...
http://www.aees.kyushu-u.ac.jp/lab/06Yoshida.pdf
高エネルギー物質理工学講座 高エネルギー環境材料学
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン炉）、イオン加速器、超高圧電子顕微鏡等などを用いての粒子線照射実験をもとに、核融合炉. 材料の有力な候補であるバナジム合金や銅合金を対象とした様々な視点から照射効果に関す. る研究を行い、耐粒子線照射に優れた核融合炉材料の開発を目指してい...
http://www0.nsc.co.jp/monthly/pdf/2006_5_158.pdf
技 術 開 発 が 支 え る 新 日 鉄 の も の づ く り
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン3D-APの基本原理は、50年前にミュラー博士（E.W. M?ller）. によって発明された電界イオン顕微鏡（FIM）にある。これは. 金属の表面原子を最初に観察した装置だ。しかし、電子顕微鏡. が先に飛躍的な進歩を遂げ、汎用機器としての地位を確立し...
http://www.sp.u-tokai.ac.jp/_Department/Generalinfo/setubi.html
主な実験設備 東海大学理学部物理学科
原子プローブ電界イオン顕微鏡は、固体中の極微小領域の原子配列が原子レベルで観測と原子の種類も分析することができる。それを用いて、ここでは未来の耐熱用材料である。Ti−Al合金の規則―不規則性相転移の研究を行っている...
http://www-i.setsunan.ac.jp/~kogaku/gakubu/SEEDS-WEB/ENG-PDF/3-e.pdf
- 23 - 教員名 井上 雅彦 教授 所属 工学部 電気電子工学科 専門分野
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン量分析，ラザフォード後方散乱分光，表面電子回折，電子顕微鏡，イオンスパッ. タリング）に関した教育や技術相談，共同研究 ... で置換した加熱容器内で行い，非接触にリアルタイムに熱処理中の磁化特性が磁気. 光学効果により測定できる装置を開発し...
http://www.vbl.kyoto-u.ac.jp/Nanotech/equipment/sem+fib.html
SEM+FIB
グSEM付FIB(高性能走査イオン顕微鏡)装置【セイコーインスツルメンツ製 SMI2050MS】. イオン銃：Ga液体金属ニ−ドル型イオン源; 電子銃：熱電界放射形電子銃; 加速電圧：30kV(イオン銃)、10kV(電子銃); 像分解能：5nm(イオン銃)、10nm(電子銃...
http://interface.t.u-tokyo.ac.jp/jp/equip-j.html
結晶界面工学研究室〜装置〜
過型分析電子顕微鏡（電界放出型） Topcon EM-002BF(200kV). (108KB). 精密イオン研磨機（PIPS）. (79KB). 高分解能透過型電子顕微鏡 Topcon ... 方位像顕微鏡（走査型電子顕微鏡） JSM-5310. (68KB). 機械研磨機. (39KB). 原子間力顕微...
http://www.basj.com/set/xdata/seminar/secm_principle_and_operation.pdf
電気化学顕微鏡の原理ならびに操作法
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン?. SECM の操作原理. 汎用の走査型顕微鏡のように、SECM は導電性. あるいは絶縁性サンプル表面. 1. 近傍でのサンプル ... イオン選択性電極によるポテンショメト. リック SECM 計測も可能です. 2 。 アンペロメトリック計測の場合、探針電流は...
http://www.nts-book.co.jp/item/detail/contents/buturi/20040600_19.html
（詳細目次）新訂版 表面科学の基礎と応用
法（SFG） エリプソメトリー 表面異方性反射率スペクトロスコピー（RAS） 電子スピン共鳴法（ESR） 光学顕微鏡 SORを用いる測定法 ... イオン注入法の原理 イオン注入プロセス 酸素イオン注入による素子分離技術（SIMOX）. 6. エッチン...
http://www.vbl.tsukuba.ac.jp/research/bk.shtml
University of Tsukuba Venture Business Laboratory
を利用して物質の表面あるいは内部構造の3次元的情報を画像化する。?線励起による蛍光?線は、元素によって異なる ... 超音速分子線散乱装置、走査トンネル顕微鏡（2台）、非接触原子間力顕微鏡、簡易型電界イオン顕微鏡、X線光電子分...
http://www.vdec.u-tokyo.ac.jp/Facilities/logic_test.html
Logic Tester Sepcifications
イオン顕微鏡像. 最大観測範囲, 5mm x 5mm. 最小観測範囲, 1um x 1um. イオン顕微鏡像の保存, ハードディスクへの ... Milling(切削), イオン衝突による特定箇所の切削が可能. Metal Selective Milling(導体選択切削), RIE方式による特定箇所...
http://www.saitama-u.ac.jp/kougaku/open/taiken/1998/hp/4_1/index.html
第4コース「身のまわりの物を作って観てみよう」のページ（工学部応用 ...
子線という特別な「光」を用いた顕微鏡「電子顕微鏡」による物質表面の観察、高温の炎の中の主に金属イオンの発する ... と、光の代わりに電子を、光学レンズの代わりに電磁レンズを置き換えた透過電子顕微鏡は原理的には同じようなものです...
http://www.ites.co.jp/analyze/souchi/index.html
アイテス 電子部品の受託評価・解析 [装置一覧]
： 1024ピンまで ソケットを使用しないでパルス印加 直接チャージ法、電界誘導法の両方に対応 ... リアルタイムイオン顕微鏡CrossBeam FIB, 超低加速電圧の超高分解能走査型電子顕微鏡 (GEMINIカラム) に集束イオンビーム装置 (FIB) を搭...
http://www.sci.osaka-cu.ac.jp/nano/pdf/f8_3-6.pdf
ニッケル表面の局所領域で生成した電界イオンビームの特性評価の試み
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンくは表面に照射する電子に対してスピン分解して分光することを測定原理としている。但し、何れの分光. 法においても、得られるスペクトルには試料 ... は、アトムプローブ電界イオン顕微鏡（AP-FIM）であるが、生成イオンのビーム特性（運動エネルギー...
http://211.120.54.153/a_menu/koutou/shinkou/daigaku/03052304.htm
平成14年度私立大学等研究設備整備費等補助金（私立大学等研究設備等 ...
パッチクランプ・細胞内イオン濃度リアルタイム同時計測システム. 実践女子学園, 実践女子大学 ... 研究設備, クライオ透過電子顕微鏡システム. 5486. 情報設備, 電子教材教育設備. 上智学院, 上智大...
http://www.ics-inc.co.jp/nanotech/magazine/m06.html
nano tech 2006
ロジーにおける観察や加工の分野で、イオンビーム技術、電子ビーム技術、プローブ顕微鏡技術などを軸に、最高 ... 走査型イオン顕微鏡SMI シリーズは、加工や観察の元になるイオンビーム性能に高分解能・高性能を持つ集束イオンビーム装置...
http://www.jaimashow.jp/post/show2003/compj.php?CODE=32
2003分析展
ーFE-SEM：LEO GEMINI SUPRA/ULTRAシリーズ・コンベンショナル/VP-SEM：LEO EVOシリーズ・リアルタイムイオン/電子顕微鏡：LEO 1500XB CrossBeamシリーズ・In-ColumnエネルギーフィルターTEM：LEO 912Ω/922Ω. 見どころ情報, ブースの見どころ...
http://pub.maruzen.co.jp/book_magazine/book_data/search/4621049550.html
応用物理ハンドブック 第2版
.3.4 電界放射顕微鏡，電界イオン顕微鏡，アトムプローブ電界イオン顕微鏡 5.3.5 走査型プローブ顕微鏡(SPM) 5.3.6 イオン ... 安全管理 10.3 プロセスシミュレーション技術 10.3.1 概要 10.3.2 原理とモデル 10.3.3 プロセスシミュレーションの実...
http://www.sci-news.co.jp/news/200007/120728.htm
平成12年7月28日号／科学新聞
の超高精細なサンプル画像を観察しながら、長距離（大阪−東京−横浜間約500??）を感じさせずに世界最高性能の電子顕微鏡をリアルタイムに操作することができる。 今回使用されたギガビットIPネットワークは、WDM（Wavelength Divisio...
http://fjnszt.break108.com/
スズキ 自動車
細く絞った走査電子ビームを試料にあて，そこからの反射電子線や2次電子線を利用して全体像をテレビモニターに映し出している． ... 電界イオン顕微鏡，アトムプローブ電界イオン顕微鏡：針状の試料先端部分の原子状態を知ること...
http://www.ulvac-phi.co.jp/jp/profile_gaiyo.htm
概要
4月, Omicron NanoTechnology GmbH社と同社走査型プローブ顕微鏡（SPM）関連並びに表面分析コンポーネントの総代理店契約を締結。 2002年 1月, Oxford nanoScience社と同社3次元アトムプローブ電界イオン顕微鏡（3D-AP）装置の総代理店契約...
http://www.is.oit.ac.jp/~k403/Professor.html
シミュレーション物理研究室
おけるイオン衝撃効果(共著) 溶接学会誌（学術雑誌、 1995 ） 64/4277-281. 5. 熱電界放射陰極(Zr-O/W(100))にみる高温表面物性の新た ... コインシデンス電子顕微鏡の開発(1)コインシデンス電子顕微鏡像の観察( 学術雑誌、 1997 ) 46/1,79-8...
http://techno.numazu-ct.ac.jp/gaiyou.html
テクノセンター：施設概要
で高分解能の質量分析が可能・その他 物質工学科 設置分析機器 クロマトグラフ（GC, LC,イオン)、NMR、FT-IR、 ... 電子顕微鏡付き疲労試験機(2kN)、超高サイクル疲労試験機(5kN)、疲労試験機(98kN)、精密万能試験機（98kN）､万能試...
http://www.eandt.biz/3_ccd_camera.htm
高感度CCDカメラ各種、イメージング・分光等
イン 1000倍 * >30フレーﾑ/秒のデ−タ取り込み * 真空封じ切り 5年保証 * 豊富なチップ ... 応用例 * 一分子蛍光観察 * 生細胞リアルタイム蛍光観察 * 細胞内各種イオン濃度分布測定 * ニポウ式共焦点レ−ザ顕微鏡によるリアルタイム蛍...
http://online-kaikou.ritsumei.ac.jp/2006/syp/show?course_code=54199
立命館大学 2006年度 オンラインシラバス - 物質科学 TB | 物質科学 BI
質科学探査の最先端 ・電界放出顕微鏡. ・電界イオン顕微鏡 ・トンネル顕微鏡. ・電子線ホログラフィー、AB効果 ・電子顕微鏡. <第11回〜第15回>. ・物質の構造と機能性材料 ・非晶質、準結晶、結晶. ・高温超伝導（デモ実験） ・形...
http://www0.nsc.co.jp/kenkyusho/contenthtml/s381/38103.pdf
電子顕微鏡によるピンポイント微細組織解析技術
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン技術の開発に最も注力し，イオンビームを用いた試料加工技術，さ. らには，ミクロンサイズのマニピュレータ技術を活用した，新しい. 電子顕微鏡用の試料作製技術を確立した。その分析装置技術の基本. 原理は，半導体技術分野の超微細加工技術に基づくも...
http://jstore.jst.go.jp/cgi-bin/patent/ipc/detail.cgi?pat_id=12390&parent=G12
J-STORE(走査型トンネル顕微鏡、その探針、その探針の処理方法及び微細 ...
発明の走査型トンネル顕微鏡とそれによる微細構造物の構築原理を示す模式図である。この図において、1は3次元駆動装置、2はその3次元駆動装置に連結されたSTM探針であり、このSTM探針2は、イオン導電性と電子導電性とを兼ね備え...
http://www.sci.osaka-cu.ac.jp/nano/pdf/f8_3-6.pdf
ニッケル表面の局所領域で生成した電界イオンビームの特性評価の試み
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンは、アトムプローブ電界イオン顕微鏡（AP-FIM）であるが、生成イオンのビーム特性（運動エネルギー分. 布）を評価するために、試料 tip の前面には対向電極（counter electrode）を設置してある。この対向電極. の働きは、通常の FIM 像観察モードの場...
http://www.kll.keio.ac.jp/ktm/ktm2003/abstract.html
ABSTRACT《慶應テクノモール2003・第4回慶應科学技術展》
芋の葉のように高い撥水性を示すものがあり、表面を顕微鏡で観察すると微細な凹凸構造を形成していることが ... 我々独自の「球状電子勾配超高分子」は種々の金属イオンを分子内に個数と位置を正確に決めて集積できる初めての新材料です...
http://www.sendai.kopas.co.jp/METAL/NEWBOOK/n-b_006-newcont.pdf
目 次
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン走査プローブ顕微鏡による金属組織の観察. 早川正夫 松岡三郎. 41. 走査イオン顕微鏡を活用したその場観察手法 ... ローレンツ法による単一カーボンナノチューブの電界電子放出サイトのその場観察. 日高貴志夫 藤枝 正 上野武夫 21...
http://www.kochi-tech.ac.jp/library/ron/2000/ele/1010245.pdf
卒 業 研 究 報 告
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン原理図を図 2.7 に示す。 この装置はイオン顕微鏡装置でもあるので、加工領域を見ることがそのまま. 加工につながり、加工領域を容易に設定でき、試料の形状変化を連続的に観察. することができる。 試料表面の像観察には通常イオンビームによって励起...
http://wwwsoc.nii.ac.jp/jsm/setou.doc
No． 日本顕微鏡学会学会賞（瀬藤賞）候補者推薦書 （2007年度） 年 ...
イプ: Microsoft Word - HTMLバージョン108 永谷 隆・斎藤尚武 電界放出電子銃を装備した高分解能走査電子顕微鏡の開発と実用化109 山本敏行 電子顕微鏡組織学の ... 61 屋代雄三・中村勝吾 電解イオン顕微鏡の基礎 62 四方英四郎 植物ウィルスの電子顕微鏡的研究 63 紀本和男・西田 功 ガ...
http://panasonic.co.jp/semicon/q_manual/j-pdf/4handou.pdf
第 4 章
イプ: PDF/Adobe Acrobat電界浸透深さの解析. 電 界. (?数十keV). イオン化原子. FIM. 電界イオン顕微鏡法. Field Ion Microscopy. （径）0.数?数nm. （厚）単原子層. 針状金属先端での電界蒸. 発イオン、または表面電. 界分布を希ガス等のイオ. ン化率分布に変...
http://high.spnavi.com/
ノートパソコン
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン概要：原子レベルの分解能を持つ電界イオン顕微鏡(FIM)の原理を利用した DNA の塩基配列. の高速な決定法に関する基礎的検討を行った。 ... DNA を固定した試料では低い電圧において電界イオン化が生じ、FIM 像が観察された。一方...
http://www.fcci.or.jp/tec2003/list/elec.htm
電気・電子
（レゴ） を用いたリアルタイム制御 各種センサ （光センサ、 タッチセンサ） を用いたLEGOにより、 簡単に組み込みリアルタイム制御 ... 透過、 走査型電子顕微鏡 ◆2次イオン質量分析装置 ◆原子間力顕微鏡 ◆X線光電子分光法、 電子線アナライ...
http://speed.sii.co.jp/pub/corp/pr/newsDetail.jsp?news=1247
SIIニュースリリース 2006/01/17
オンビーム装置（FIB）、プローブ顕微鏡（SPM）などのナノ計測、分析、加工分野において最先端の技術を切り開いてきた日本を代表するメーカの一社です。 CZ社の電子顕微鏡は、オメガフィルターなどの卓越した電子光学系を初めて採用した世...
http://www.asakura.co.jp/books/isbn/4-254-14069-X/
朝倉書店｜書籍詳細情報 機器分析の事典
学・医学・薬学・農学等の分野において実際の測定に用いる機器の構成，作動原理，得られる定性・定量情報，用途，応用例などを解説する。〔項目〕ICP-MS／イオンセンサー／走査電子顕微鏡／等速電気泳動装置／超臨界流体抽出装置／...
http://www.mew.co.jp/tecrepo/534j/pdfs/534_03.pdf
集束イオンビームおよび透過電子顕微鏡を用いた微細構造解析法
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン2.1.1 FIBによる断面加工および走査イオン顕微鏡観察. FIB. は，集束させたガリウムイオンを試料表面上で走査 ... 原理は図. 14. のようになっている。下部電極から注入され. た電子がナノシリコン表面の酸化膜に形成された強電界...
http://www.agne.co.jp/books/ISBN4-901496-31-X.htm
アグネ技術センター 書籍出版案内
はじめに 2.1.2 電界放射と電界放射顕微鏡 2.1.3 電界イオン顕微鏡（FIM） 2.1.4 FIM試料作製法 2.1.5 像解釈の基礎 2.1.6 1次元アトムプローブ 2.1.7 3次元アトムプローブ（3DAP） 2.1.8 濃度プロファイルと相分離 2.1.9 ラダーダイヤグラム...
http://exam.atengineer.com/equipped/cls21179.htm
リアルタイムイオン顕微鏡
ムイオン顕微鏡の紹介、及び、リアルタイムイオン顕微鏡の取り扱い企...
http://www.ntt.co.jp/RD/OFIS/active/1998pdf/br.pdf
基 礎 技 術
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン100nm 周期ナノホールアレイの電子顕微鏡写真. ●光出力の励起光強度密度依存性. SiC基板（ ）. SiC基板 ... とともに、マイクロ波光励起による単一電子トンネル電流の制御. に成功しました。 はじめに AlGaAs/GaAs 変調ドープヘテロ構造に集束イオ...
http://www.emat.nitech.ac.jp/tantou.html
名古屋工業大学 環境材料工学科 担当教員紹介
iwatsu, 17-230, 5623, 電界イオン顕微鏡、金属の蒸着、金属-液体表面反応, ■ ■. 奥村圭二, okumura, 1-718B, 5305, 超音波材料プロセッシング、高清浄金属の製造プロセス, ■ ■. 柿本健一, kakimoto, 2-514A, 7734, 圧電セラミックス、...
http://www.rdco.info/134-135.html
無題ドキュメント
（TEM):67.9億円，69台。マーケットは金額で15.4%，数量で26.6%のダウン。 (SEM):141.2億円，779台。マーケットは金額で3.6%，数量で11.1%の ... 核酸抽出・精製用試薬，PCR／リアルタイムPCR用試薬，トランスフェクション用機器・試...
http://www.vbl.kyoto-u.ac.jp/Nanotech/equipment/sem+fib.html
SEM+FIB
グSEM付FIB(高性能走査イオン顕微鏡)装置【セイコーインスツルメンツ製 SMI2050MS】. イオン銃：Ga液体金属ニ−ドル型イオン源; 電子銃：熱電界放射形電子銃; 加速電圧：30kV(イオン銃)、10kV(電子銃); 像分解能：5nm(イオン銃)、10nm(電子銃...
http://www.sankaken.gr.jp/infomation/kiki.html
広島県産業科学技術研究所 研究機器利用について
顕微鏡（TEM）, ：, 試料断面の形状や回折像を観測する 日本電子製 JEM-3000F (300KV、FE) ... 材料の表面解析やスパッタイオン銃による深さ方向の定性，定量解析等が可能です。磁気的なレンズの採用により光電子の取り込み効率が大幅にアッ...
http://www-acc.kek.jp/WWW-ACC-exp/ACseminar/
加速器のセミナー情報
ンビーム照射と上記の電子・γ 線による架橋・グラフト重合技術と組み合わせた家庭向け、自動車向け燃料電池用の高耐久性電解質膜の研究 ... 電子顕微鏡の原理 ・最新技術とその応用 ・今後求められるブレークスルー ・等々. 2006/07/21, Fri...
http://www.hisco.co.jp/ei/
株式会社日立ハイテクフィールディング : 半導体・ナノテクノロジー
ット・イントラネット・電話回線を利用して分析装置や電子顕微鏡のデータを、リアルタイムに確認することができます。 ... 透過形電子顕微鏡用試料整形・光学顕微鏡用切片試料作成用; PIB-10形プラズマイオンボンバーダ(親水性処理装置...
http://www.hitachi-hitec.com/em/fib/index.html
集束イオンビーム(FIB) : 日立ハイテク
クノロジーズの電子顕微鏡(SEM/TEM)および集束イオンビーム(FIB)のサイト。集束イオンビーム(FIB)のページです。 ... FIB本体の真空チャンバー内で、STEM、TEM等で解析したい部分をイオンビームで切り出し、マニピュレータで取り出す装置です...
http://www2.chuo-u.ac.jp/tise/kyouyou/6hagama2000110/index.html
分子の形とモノのかたちをつなぐ原理
小さな分子の世界の形やパターンが，走査トンネル顕微鏡（STM）あるいは原子間力顕微鏡（AFM）の発見により見ることができる ... 金属イオンからなる分子の部品を用いて，分子間相互作用を適当に選ぶと，多角形を簡単に作ることができます...
http://www.adm.u-tokyo.ac.jp/IRS/ScholarList/ByFunction/func5090_j.html
研究者一覧
： 電子顕微鏡による鉱物の微細構造の解析 鉱物の表面構造と表面反応の研究 生体鉱化作用キーワード： 鉱物 高分解能電子 ... 研究テーマ： 太陽系の起源 太陽系前駆物質 惑星探査キーワード： 隕石 同位体比 二次イオン質量分析計 窒素 大...
http://www.smt-inc.co.jp/jutaku/buturi01.html
住友金属テクノロジー受託研究事業部
オージェ電子分光分析装置, FE−AES, 極表面微小部元素分析. 二次イオン質量分析計, D−SIMS, 表面微量元素分析. 飛行時間型二次イオン質量分析計, TOF−SIMS, 極表面微量元素分析. 分析透過電子顕微鏡, A−TE...
http://www.cns.s.u-tokyo.ac.jp/proj/accel/AccelParts/HTScoil/Nagamati/~NB8S-NGMC/fibdd/fibdd2-4.htm
2−4．低エネルギー集束イオンビーム装置の構成
離器は、電界と磁界を互いに垂直方向にかけ、目的とするイオン種のみが電界から受ける力と磁界から受ける力が ... 走査イオン顕微鏡は高倍率であるが、試料に対してイオンビームを照射するためにスパッタリングによる損傷あるいはイオン注...
http://tech-staff.yz.yamagata-u.ac.jp/kyozai/fe-sem/SEM-EDS.pdf
走査型電子顕微鏡（SEM）で分かること
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン山形大学工学部には、研究・実験用に走査型電子顕微鏡が数多く配備されており、工業材料な. どの表面観察や組成分析、構造解析など、 ... に、イオンスパッタの原理を示す。 15. イオンスパッタ被覆法(. )は、容器内に対向した2極間に高い電圧をかけて...
http://www.kuba.co.jp/syoseki/PDF/3103.pdf
極微な力で拓くナノの世界
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンカルボン酸イオンの観察／二酸化チタン基板表面への解離吸着. カルボン酸分子層の混合単分子膜の顕微鏡像／カルボン酸イオン ... 電界放射顕微鏡と電界イオン顕微鏡／ FEM と FIM の特徴. 3 次元アトムプローブの特長／位置感知型イオン検出器を備え...
http://www.incom.co.jp/productnavi/index.php/product/33105
リアルタイムPCサーモグラフィ | (株)アピステ | サーモグラフィ ...
ムPCサーモグラフィ、(株)アピステの製品です。わずかな温度差も鮮明に表示可能. ... デジタル・シンセサイザ; 2006-12-15：: リチウムイオン二次電池向けパワーMOSFET; 2006-12-15：: 高性能マルチメディアボード「BDS4010」を開...
http://www.lsrc.u-toyama.ac.jp/sic/division.html
DIVISIONS
過型電子顕微鏡（日本電子 JEM-200CX） 微小部走査X線分析装置（日立 X-650）; 標本作成室 クライオスタット、マイクロスライサ−、臨界点乾燥機、イオンコーター、イオンスパッター その...
http://www-lab.imr.tohoku.ac.jp/~util/saitaku/H18/research_arcmgin.pdf
平成18年度 附属金属ガラス総合研究センター 共同利用研究 採択一覧 ...
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン電子ビーム式浮遊帯域溶融装置. 3 継続 半導体基板表面上の有機ナノ薄膜の成長観察. 助 手. J. T. Sadowski. 助教授. 助 手. 藤川 安仁. 高村由起子. 走査型プローブ顕微鏡システム. 電界放射走査電子顕微鏡. 超高真空電界イオン走査トンネル顕微...
http://speed.clsever.com/
クレジットカード
離れた場所から非接触で、リアルタイムに温度測定が可能。 日本電子JTG−3210, 日高, H1.2.14 ... イオンポンプバックアップ電源, 電界放射形電子顕微鏡のイオンポンプの停電時におけるバックアップ用電源。 日立s−4300Y...
http://s08.02cash.com/
楽天KC国内信販
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンなる。そのために，ここでは陰極レンズの収差特性の改. 善のため磁界・電界レンズが用いられている。LEEM の. 基本はエミッション顕微鏡のため，FEA を陰極レンズ. の中に組み込むことで EEM 像との同時観察することが. できている...
http://www.waseda.jp/zaiken/fol_shokai/syokai_main07.html
materials science and technology
ル表面改質領域の物性評価：イオン照射によるSi表面改質過程を走査トンネル顕微鏡を用いてリアルタイム観察し、1個のイオンがつくる表面改質領域の構造、電子状態およびそれらの動的変化をナノメータスケールで明らかにする...
http://www.nanoinfo.jp/press/139.shtml
電界により銀ナノワイヤを直行化
を加えると、不規則な銀イオンが電解中で整列するのです。この研究では、電界の強さに応じて整列の度合いも強まるということも分かりました。走査型電子顕微鏡で撮影された一連の画像は、銀ナノワイヤに対する強まっていく電界の影響を示して...
http://ss.mse.nitech.ac.jp/about03.html
(3)極限微小サイズ電解界放出型 タングステンエミッターの作製 曲率 ...
ティップに高電界を印加した状態で熱処理して、ティップ先端に(111)極の突起を形成する過程を、電界放射顕微鏡像と局所電流―電圧測定、透過電子顕微鏡および走査電子顕微鏡観察により調べた。その結果、ほぼ単原子レベルの極率半径を有す...
http://wwweng.cs.shinshu-u.ac.jp/CHEM/jugyou/syllabus_new/kaneko-hyoumennbunnseki.htm
対象学年
，表面分析に用いられる粒子線と物質との相互作用を述べた上で，各種の表面分析法について，原理，励起源，信号源，得られる情報，特徴などを ... 走査型トンネル顕微鏡(STM)，電界イオン顕微鏡(FIM)，原子間力顕微鏡(AFM)など. ＜成績評価...
http://www.jst.go.jp/pr/info/info329/sanko3.html
（参考3）新規採択開発課題の概要
解能荷電粒子撮像素子の開発, 圦本 尚義北海道大学大学院理学研究院教授, 荷電粒子を高精度・高分解能で2次元検出する技術はイオン顕微鏡や電子顕微鏡において必要不可欠であり、また、質量分析、電子線分光・回折においても有用です...
http://www.material.t.u-tokyo.ac.jp/contents/3_d1.html
東京大学マテリアル工学科 / 大学院情報 / 研究室紹介一覧
ス工学研究室. 鳥海明 教授 CMOSデバイス物理、デバイス信頼性、量子効果デバイス、単一電子効果? 弓野健太郎 講師 半導体デバイス、有機薄膜トランジスタ、結晶成長、表面 拡散、走査型プローブ顕微鏡、電界イオン顕微...
http://www.coronasha.co.jp/np/detailindex.do?in=1&goods_id=921
コロナ社｜目次
ット法 7.2.3 光像法7.3 単結晶の塑性変形 7.3.1 すべり変形 7.3.2 双晶変形 7.3.3 その他の変形7.4 すべり変形の結晶学 ... 試料の電顕像のコントラスト 9.5.4 透過電子顕微鏡法の応用9.6 X線回析顕微鏡法による転位の観察9.7 電界イオン顕微鏡...
http://www.nirs.go.jp/report/nirs_news/9906/hik2p.htm
医研home-1
MeV/nの炭素イオンを照射して、極短時間エッチングしたCR-. 39検出器の表面を原子間力顕微鏡で観察したもの ... この手法では、原理的. に約100nm程度での位置合わせが可能ですが、現状では、細胞は細胞核. を染色するため光学顕微鏡で、エッ...
http://www0.nsc.co.jp/monthly/pdf/2006_5_158.pdf
技 術 開 発 が 支 え る 新 日 鉄 の も の づ く り
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン電界蒸発. イオン. C. Fe. 2+. DC+パルス. 電圧印加. 針状試料. FIM像. 測定領域. 図2 鉄鋼材料組織の概略図 ... によって発明された電界イオン顕微鏡（FIM）にある。これは. 金属の表面原子を最初に観察した装置だ。しかし、電子顕微...
http://www.shokabo.co.jp/mybooks/ISBN4-7853-3060-0.htm
＜書籍紹介＞ 機器分析の基礎（江藤守總 著）
顕微鏡―走査型および透過型電子顕微鏡―; 10・1 はじめに; 10・2 走査型電子顕微鏡の原理および実験 ... 13 電気化学分析; 13・1 電池と電位差分析法の基礎; 13・2 電位差分析法（ポテンシオメトリー）; 13・3 イオン選択性電極（イオンセンサー...
http://www.jeol.co.jp/technical/dictionary/EMTerms/06.htm
電子顕微鏡 基本用語集
界放出型の場合、電子銃室は独立なイオンポンプが配置され高真空が得られるようになっている。 ... レンズ等からのガスが透過電子顕微鏡の鏡筒や試料室を汚染しないようにするために、照射系、結像系の鏡筒内に挿入される直径 6〜7mm のアル...
http://www.jst.go.jp/sentan/saitakuh18-2.html
平成18年度採択開発課題−要素技術プログラム（先端計測分析技術・機器 ...
電子放出電子銃に比較して、2 桁以上の輝度をもち、2 桁以上の空間的可干渉性が向上した、実用に供する寿命をもつ単原子 ... 荷電粒子を高精度・高分解能で2次元検出する技術はイオン顕微鏡や電子顕微鏡において必要不可欠であり、また、質...
http://www.krp.ktarn.or.jp/kikisetsumei.html
オープン・ラボ設備機器用途説明概要一覧
イオンに合わせセンサーを交換します。食品中のNa＋、排水中のNO3ー 等の測定ができます。 ... 金属顕微鏡, 反射光により、表面像を観察する顕微鏡です。800倍まで拡大できます。金属等の不透明な試料の表面観察に適しています...
http://www.nuqe.nagoya-u.ac.jp/lab.html
研究グループ紹介
微鏡内その場動観察および集束イオンビーム法による最新の試料作成技術を駆使して、固液界面のナノ解析、電界効果 ... 表面とイオンとの反応動力学. Si表面上のPb,Sn2元金属ナノ構造の 高分解能走査トンネル顕微鏡像と原子配列モデ...
http://www.jssp.co.jp/f_chem_rev/sosetu44.html
表面の改質
VD技術 2 エッチング 3 イオン注入 文献 3 放射線処理・・・佐々木隆 1 低エネルギー電子線による硬化 2 放射線 ... および軟X線による表面Bragg反射 4 X線光電子回折 5 電界イオン顕微鏡 6 イオン散乱法 7 走査トンネル顕微鏡 文献 5 固体の表面...
http://bookweb.kinokuniya.co.jp/guest/cgi-bin/wshosea.cgi?W-NIPS=9977001367
カ−ボンナノテクノロジ−の基礎と応用: 紀伊國屋書店BookWeb
理 3.CNTの電界放出特性 3.1CNTからの電界放出と先端組織3.2残留ガス圧の影響3.3電界放出顕微鏡像の観察 4.CNT先端の原子構造4.1電界イオン顕微鏡像の観察4.2電界印加中のIn-situ観察4.3表面構造を制御したカーボン薄膜からの電界放出 5...
http://inisjp.tokai-sc.jaea.go.jp/ACT01J/Frame0901.htm
たゆまざる探究の軌跡−研究活動と成果 2001
内部にはそれぞれのビームラインごとに静電プリズムが据え付けられ、試料に60度の角度からイオンが入射するようになっています。この装置を利用することでイオン照射に伴う組織変化をリアルタイムで観察・分析することができます...
http://www.mrs-j.org/mrsjnews/news16-2/lab-h16-2.pdf
独立行政法人理化学研究所 中央研究所 先端技術開発支援センター
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンイオン注入埋込金属数10 nm 粒子. ポリイミド. アルミナ. 光学素子加工システム. 小型高速ミーリング機. 超高圧反応装置. 卓上NMR. 微小流路タンパク質. 解析システム. 3次元電子顕微鏡. 過去10年間に分析した元素. 世界初！ｶﾗｰﾗﾋﾟｯﾄﾞﾌﾟﾛﾄﾀｲﾋﾟﾝｸ...
http://www.jp.horiba.com/analy/tensec/sample.htm
HORIBA : 顕微鏡用迅速試料作製装置 / TENSEC 走査型電子顕微鏡、光学 ...
ワーマジックが顕微鏡試料の広範囲・高速前処理を実現 顕微鏡試料作成においてこれまでに不可能であった高いエッチングレートとソフトなイオン照射をはじめて実現。 光学顕微鏡、走査電子顕微鏡に必要な表面を10秒でつくることができます...
http://flex.ee.uec.ac.jp/kaken98/News-1/ysaito99-1-Kaken/ysaito99-1-Kaken.html
ナノチューブおよびナノカプセルの合成，物性制御とエレクトロニクスへ応用
ミッタ → 電子源，ディスプレイへの応用（図3） 研究手法： ○ 電界放出顕微鏡法…電子源基礎特性の評価（図4） ○ 電界イオン顕微鏡法…原子分解能での先端構造の観察 ↓ 電子放出特性，ナノチューブ先端構造の解明 エミッタに適し...
http://www.elc.nias.ac.jp/news.pdf
電気電子情報工学科ニュース
イプ: PDF/Adobe Acrobat電界イオン顕微鏡などの研究室公開を行ない、1号館7階ではソーラースクーター. や画像処理LSIの作品を展示しました。 ... 教授）では電界イオン顕微鏡を使って原子1. つ1つを観察しながら研究しています。 電気電子情報工学科ニュー...
http://www.ube-k.ac.jp/~tcenter/instrument.html
地域共同テクノセンター主要機器
プバックアップ電源, 電界放射形電子顕微鏡のイオンポンプの停電時におけるバックアップ用電源。 日立s−4300Y用, 走査電顕室, H13.2.28. ドラフトチャンバー, 有機溶剤など揮発性物質や揮発性の無機酸などの有害物質を取り扱う場合...
http://www.mew.co.jp/tecrepo/534j/pdfs/534_03.pdf
集束イオンビームおよび透過電子顕微鏡を用いた微細構造解析法
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンする二次電子によって得られる走査イオン顕微鏡. （. Scanning Ion Microscope. ：以下，. SIM. と記す）像を用い ... が固着した電界効果型トランジスタ表面の. SIM. 像である。 前述の手法を用いて，大きさ数 ?m の固着物を含むトラ...
http://ascii24.com/news/i/tech/article/2001/11/29/631656-000.html?geta
SII、LSIの断面観察が可能な走査イオン顕微鏡『SMI2000MSシリーズ』を発売
ン顕微鏡は、ウェハ表面にイオンビームを走査(照射)することで、LSIの表面にサブμmからμmサイズの微小な穴あけを ... 走査イオン顕微鏡で微小欠陥箇所を加工しながら、55度傾いた走査型電子顕微鏡(SEM)で同一箇所をリアルタイムに観察でき...
http://phhhp.ambition123.com/
自動車
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョン電子顕微鏡の観察領域より広い範囲を. 複数マップを接合（モンタージュ機能）. することで、電子顕微鏡の観察領域に ... ライン・リアルタイム測定を実現しました。これにより一台で4種の薬液/レンジをモニタリング可能です...
http://wwweng.cs.shinshu-u.ac.jp/CHEM/jugyou/syllabus_new/kaneko-hyoumennbunnseki.htm
対象学年
質量分析法(SIMS)，イオン散乱分光法(ISS)，ラザフォード後方散乱分光法(RBS)，粒子線励起X線分光法(PIXE)，グロー放電スペクトル法(GDMS)など. 5．その他の表面分析法. 走査型トンネル顕微鏡(STM)，電界イオン顕微鏡(FIM)，原子間...
http://www.nias.ac.jp/cgi-bin/teacher/teacher.cgi?count=1061&action=tokutei
NiAS 長崎総合科学大学｜長崎総合科学大学について｜専任教員紹介
属界面反応過程・カーボン系薄膜の電界電子・イオン顕微鏡（FEM-FIM）・電子分光（FEES）法による評価 ... 論文, 表面シリサイド形成層と下地金属界面の電界イオン顕微鏡による評価, 共著, 1999.3, 真空 第42巻3号, 田中洋晶・奥野公夫, p.22...
http://www.ssk21.co.jp/repo/R_R02V0104.html
機能性無機膜の製造と応用 レポート 資料
と構造 ・X線光電子分光分析 −原理 −分析事例 ・二次イオン質量分析 −原理 −分析事例 ・ラマン分光分析 −原理 −分析事例 ・薄膜X線回析 −原理 −分析例 ・透過電子顕微鏡 −原理 −観察事例2．薄膜の密着力および内部応力 ・薄膜...
http://quasi.nims.go.jp/jsm05/Symposia/zairyou.html
JSM05：材料系シンポジウム
ーム誘起・励起効果に関する研究は、電子顕微鏡をはじめとする分析・解析機器の発達とともに大きく発展し、かつナノ材料の創製へと展開している。本シンポジウムは、イオン、電子、光（レーザー）、中性子等のビーム照射に伴う誘起・励起効果...
http://www.osaka-kyoiku.ac.jp/~rck/deno.pdf
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた 生物試料の観察
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンこのテキストでは、走査型電子顕微鏡の. 原理を簡単に説明した上で、生物試料の基. 本的な処理方法について解説する。 ... ている水分は、イオンスパッタリングの際. に真空ポンプで引くことにより除去できる。 しかし、自然乾燥時の表面張力は大変...
http://www.kyoritsu-pub.co.jp/series/nbp1.html
共立出版株式会社 「シリーズ・ニューバイオフィジックス（?期・全11 ...
編A5判・238頁・3800円●内容 生体膜を貫通するタンパク質＝イオンチャネルは細胞応答のあらゆる場面に登場する第一級の分子である．研究方法・働きとその原理・生理的重要性を専門外の読者が抱く疑問点に答えるかたちで解説する...
http://www.imr.tohoku.ac.jp/jpn/research/bumon/m_property/04.html
東北大学 金属材料研究所 | 研究室 | 材料物性研究部 | 量子表面界面 ...
としては、世界の最先端のレベルを誇る走査トンネル顕微鏡（FI-STM）、アトムプローブ電界イオン ... GaAs（001）表面に生成した4×6再 構成構造の原子分解能走査トンネル 顕微鏡像。 ガリウムのクラスター（橙色部）が規則 的に配列している...
http://www.nanoworld.jp/nppp/school/h17_2/
NPPP NanoProcessing Partnership Program, Nanotechnology Research ...
の専門家や微細加工の研究者を講師として招き、集束イオンビーム加工観察装置、走査型電子顕微鏡、電子ビーム描画装置、走査型プローブ顕微鏡、フォトリソグラフィについての基本的知識と最新の技術動向を学び、NPPP専任スタッフの指導のもと...
http://pfi.iis.u-tokyo.ac.jp/res02on.pdf
二酸化チタン表面のプローブ顕微鏡観察
イプ: PDF/Adobe Acrobat - HTMLバージョンこの画像は、顕微鏡探針から放出された電子. を触媒表面のチタンイオンに局在する 3d 空軌道へ注入する条件で観察した。したがって、粒状 ... 図 4：アナターゼ（001）結晶面の（a）STM 画像、（b）NC-AFM 画像、と第一原理計...
http://www.jst.go.jp/sentan/saitakuh18-2.html
平成18年度採択開発課題−要素技術プログラム（先端計測分析技術・機器 ...
電子放出電子銃に比較して、2 桁以上の輝度をもち、2 桁以上の空間的可干渉性が向上した、実用に供する寿命をもつ単原子 ... 荷電粒子を高精度・高分解能で2次元検出する技術はイオン顕微鏡や電子顕微鏡において必要不可欠であり、また、質...
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